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• 고온 검사, 高溫檢査, burn-in

  회로의 일부 또는 전량을 주위 온도를 높여 스트레스를 가하는 상태에서 장시간 동작시켜 회로의 성능과 내구성을 시험하는 검사. 동작중인 기기에 집중적인 스트레스를 가하여 불량 반도체나 수동 소자를 조기에 발견하는 것이 주 목적으로 가전기기에서는 보통 50°C 정도의 온도에서 1일 내지 1주일 간 연속...